
PETの引張試験:デジタル画像相関法(DIC)でひずみを計測した様子
※撮影協力:東京工業大学 宍戸・久保研究室 赤松 範久 先生

デジタル画像相関法のイメージ
※撮影した画像からひずみを算出

微小ひずみ - 主ひずみε

微小ひずみ - せん断ひずみ成分γxy
デジタル画像相関法(DIC:Digital Image Correlation)とは、カメラで撮影された画像から測定対象の変位を求め、ひずみを計測できる手法です。複雑な光学系やセンサーを必要とせず、非接触かつ高分解能でひずみを計測できます。測定対象の表面ひずみを面で計測できる画像解析技術です。
DICは、材料試験、構造解析、生物工学など、さまざまな分野で活用されています。

タイヤのひずみを計測

エコー画像からひずみを計測(手首のエコー画像)
デジタル画像相関法(DIC)では、さまざまな材料や構造物の力学的性質の研究に広く使われています。
以下では、ひずみを算出するまでの大まかな流れをご紹介いたします。
1. 計測対象を撮影する
まず、変形前の状態の物体をカメラで撮影し、参照画像とします。物体の変形前の状態は、変形後との比較の基準になります。そして、物体に力が加えられて変形していく過程を、変形後の画像として撮影します。
2. 画像処理
撮影した対象となる参照画像を小さな領域(サブセット)に分割します。サブセットには特徴的なパターンがあることが重要で、変形後の画像の中で参照画像のサブセットに対応する領域を探します。ここでは、相互相関関数を計算して、最も高い相関を示す位置を見つけ出します。
3. 変位を計算
各サブセットにおいて、参照画像と変形後の画像のずれ(変位)をベクトルとして計算します。算出された変位ベクトルから物体表面の局所的な伸びや収縮を計算していきます。この時、変位ベクトルの空間的な勾配を用いることもあります。
4. 結果を算出
計算された変位をマッピングして、ひずみ分布としてプロットします。定量化されたひずみ分布は、物体のどの部分がどのように変形したのか視覚的に把握できます。得られたデータから材料の力学的特性を評価することができます。
具体的には、高温の金属などセンサーを貼付できない材料でも、画像が取得できれば計測可能です。同様に微小な部品の膨張・収縮も顕微鏡の画像から計測することもできます。
また、デジタル画像相関法(DIC)では高解像度のカメラを使用することで、非常に高い分解能でひずみを計測できます。さらに、複数台のカメラを使用すれば、面外方向を含む変位やひずみの評価も可能です(ステレオデジタル画像相関法:Stereo-DIC)計測された位置座標を基に、任意のゲージ長でひずみ計測が行えます。
デジタル画像相関法DICソフトウェアDipp-Strain
”手軽さと高精度が交差する、ひずみ計測(DIC)ソフトウェア”
DIC Dipp-Strainは、非接触で材料のひずみ(strain)を計測するDICソフトウェアです。特殊な光学系や光源を必要とせず、既存のカメラと連携可能。計測は海外製品と遜色ない高精度解析。さらに、驚異的な高速演算で計測時間を短縮します。直感的操作性と日本語表示で、わかりやすく手軽に解析できます。

デジタル画像相関法(DIC)の精度は、使用するカメラの解像度、撮影された画像の品質、解析ソフトウェアのアルゴリズム、そして塗布するランダムパターンの状態に大きく依存します。
ひずみを求める計算には、画素間の相関を用いています。画素をいくつかの領域(サブセット)に分割して、サブセット内のパターンと輝度の分布を用いて、変形前後の画像間で同じ領域を識別します。このとき、相関値は1に近いほど類似度が高く、0に近いほど相関が低いことを示します。-1に近い場合は、輝度パターンが逆相関に近い状態を示します。
計測精度を高めるため、デジタル画像相関法(DIC)では対象サイズに応じてランダムパターンを適切に描き、撮影の解像度に対応したパターンの選択を行います。このプロセスを通じて、高解像度のカメラを使用することで、高い空間分解能での計測が可能になります。
また、材料試験や設備と組み合わせることで、素材の特性や成形限界等の詳細な検証も可能となります。例えば、引張試験や振動試験にデジタル画像相関法(DIC)を適用することで、ひずみ分布や構造体の動的な変位の計測が実施でき、赤外線カメラを用いた温度計測との融合により、温度分布と変形状態の関係把握も可能です。
多くのメリットがあるデジタル画像相関法(DIC)ですが、デメリットも存在します。以下に計測におけるデメリットをまとめます。
デジタル画像相関法(DIC)の精度は、使用するカメラの解像度に強く依存します。高精度な計測を行うには、解像度の高いカメラで撮影する必要があります。カメラの解像度が低いと、計測対象の微細な変形を正確に検出することが難しくなります。
多くの場合、計測対象となる材料にランダムパターンを塗布(後述)する必要があります。この作業は対象物によっては難しく、計測自体ができないことがあります。
※ランダムパターンを塗布せず、材料自体の模様やパターンから計測を行える場合もあります。

スプレーでランダムパターンを塗布
材料に塗料を塗布して「まだら模様」を描きます。測定対象物が変形するとき、塗布されたランダムパターンも変形します。
ランダムパターンとは、デジタル画像相関法(DIC)で変形やひずみを解析するために、測定対象物の表面に形成する不規則な模様のことです。
DICでは、変形前後の画像を比較し、ランダムパターンの移動量から変位やひずみを算出します。そのため、高い精度で計測するには、測定対象物の変形に追従し、画像上で認識しやすいパターンを塗布することが重要です。
ランダムパターンは、スプレーなどで細かな粒子を噴霧し、きめ細かく不規則な模様を形成します。金属や樹脂などの測定対象では、変形時の伸縮に追従しやすい塗料やスプレーを使用することで、パターンの剥がれやずれを抑えやすくなります。

黒いスプレーで塗りつぶす

白いスプレーでまだら模様を描画
金属の引張試験では、まずテストピース表面に黒いスプレーを塗布し、背景となる色を作ります。次に、白いスプレーで細かな粒子を噴霧し、きめ細かいランダムパターンを形成します。
このとき、テストピースの変形に追従しやすい塗料やスプレーを使用することで、引張試験中の伸びに合わせて、ランダムパターンも対象物表面と一緒に変形します。これにより、DIC解析で変形前後のパターンの移動量を追跡しやすくなります。
ランダムパターンでは、背景色と模様のコントラストが高いことが重要です。そのため、黒い背景に白い模様、または白い背景に黒い模様のように、画像上でパターンを明確に認識できる状態であれば、色の組み合わせが反転していても計測に大きな影響はありません。

サブセット内のランダムパターンを比較する

相関している(類似度が高い)所を探していく
サブセットとは、画像内で相関を取る、つまり変形前後の画像で類似度を比較するための小さな領域のことです。画像計測におけるパターンマッチングのテンプレートに相当します。
デジタル画像相関法(DIC)では、測定対象物表面に形成したランダムパターンを撮影し、サブセット内のパターンが変形後の画像でどこへ移動したかを比較することで変位を求めます。そのため、サブセットの設定は計測精度に関わる重要なパラメータです。
サブセットのサイズは、例えば21×21ピクセル程度で設定することがあります。測定対象物の表面には多数のサブセットを設定し、それぞれの領域で変位を算出します。このサブセットが、DICにおける変位やひずみを求める計測点になります。
安定した解析を行うためには、サブセット内に画像上で識別しやすいランダムパターンが十分に含まれていることが重要です。

サブセット内のランダムパターン

相関係数を求め類似度が高い所を変位として決定する
デジタル画像相関法(DIC)の相関処理では、サブセット内の輝度パターンを比較します。変形前の画像に設定したサブセットを基準に、変形後の画像内で最も類似度が高い位置を探索し、その移動量から変位量や移動後の座標を求めます。
具体的には、サブセット内の輝度パターン同士を比較し、相関係数が最も高い位置を検出します。モノクロ8ビット画像の場合、画像の輝度は0〜255の256階調で数値化されており、この数値化された輝度パターンをもとに類似度を計算します。
動画データを解析する場合は、1画面目と2画面目、2画面目と3画面目、3画面目と4画面目……というように、連続する画像間で相関処理を行います。各サブセットについて、輝度パターンの類似度が最も高い位置を求めることで、対象物表面の変位分布を算出します。

計測対象となる画像を一部拡大

数値化された画素(輝度値)
デジタル画像相関法(DIC)では、カメラで撮影したデジタル画像をもとに計測を行います。デジタル画像は、画像を構成する最小単位である画素(ピクセル)が2次元平面上に並んだ画像データです。
各ピクセルには、明るさや色の情報が数値として記録されています。たとえば、モノクロ8ビット画像の場合、輝度は0〜255の256階調で表されます。ビット数が多いほど、明るさや色の階調をより細かく表現できます。
DICでは、このピクセルごとの輝度情報を利用し、変形前後の画像を比較します。測定対象物の表面に形成したランダムパターンの輝度パターンを追跡することで、同じ領域がどの方向へどれだけ移動したかを求め、変位やひずみを算出します。
そのため、DICではランダムパターンのコントラスト、撮影解像度、照明条件、ピントなどが計測精度に大きく影響します。画像上でパターンを明確に識別できる状態をつくることが、安定した解析につながります。

解像度が高いカメラで撮影されたランダムパターン

低解像度で撮影されたランダムパターン
デジタル画像相関法(DIC)では、変形前後の画像を比較して変位やひずみを算出するため、測定対象物の表面を安定して撮影することが重要です。ランダムパターンが画像上で明確に認識できるように、カメラの解像度、レンズ、照明、ピント、露光条件を適切に設定します。
撮影時にブレやピンボケ、照明ムラがあると、サブセット内の輝度パターンを正しく追跡しにくくなり、計測精度に影響する場合があります。そのため、カメラをしっかり固定し、測定中に画角やピントが変化しないようにすることが重要です。
静的な引張試験や曲げ試験では、通常の産業用カメラや高解像度カメラを使用します。一方、衝撃試験や破壊現象など、非常に短い時間で形状が変化する現象では、ハイスピードカメラを使用することで、変形の進行を時間的に追って解析しやすくなります。


※引用文献:青山学院大学 米山 聡 先生 画像相関法(DIC)による変位・ひずみ測定手順8項目
ステレオデジタル画像相関法(Stereo-DIC)とは、カメラを2台使用したステレオ撮影で、材料表面の3次元ひずみを算出できる手法です。2台のカメラで測定対象物のランダムパターンを撮影して、それぞれの画像上の座標と実空間の座標を関連付けて計測します。

ステレオデジタル画像相関法の計測イメージ

チェッカーボードを使用したキャリブレーション
ステレオデジタル画像相関法(Stereo-DIC)のキャリブレーション(校正)には、チェッカーボードを使用します。それぞれのカメラで撮影されたチェッカーボードから、仮想投影面座標と対象空間座標を共線方程式で計算し関連付けます。このプロセスにより、画像上の座標と実空間の座標を対応付け、実寸に基づいた計測が可能になります。
2次元DICでは、主に画像平面内の変位やひずみを評価します。一方、Stereo-DICでは2台のカメラを用いて対象表面の3次元座標を算出するため、面外方向の変位を含む変形挙動を評価できます。
曲げ試験や押し出し試験、熱膨張・収縮の評価など、立体的な変形を伴う対象に適しています。

【装置部品の材料強度評価における課題】
A社では装置部品の設計精度や耐久性を高めるために、材料の引張試験を重ねていました。
しかし、従来のひずみゲージでは測定範囲が限られ、破断に至るまでのひずみ分布や局所的な変形挙動を正確に捉えることができていませんでした。
●高強度材や熱処理材ではひずみを正確に測定できない
高剛性部材や熱処理材では微小変形の測定が難しく、試験結果にばらつきが生じていた
●CAE解析と整合性が取れない
解析モデル上の破断位置と実際の破壊部位が一致せず、設計の検証にコストがかかっていた
●材料設計・金型設計へのフィードバックに時間がかかる
成形条件や材料パラメータの最適化が進まず、設計変更から評価までのサイクルが長期化していた
A社では引張試験中の微小変形を非接触で測定するため、面全体のひずみを可視化できるソフトウェア「DIC Dipp-Strain」を導入。既存の試験機にカメラと照明を追加するだけで使用でき、治具や装置の改造を行わずに運用を開始。
●面全体のひずみを非接触で計測
引張試験中の微小変形や応力集中部を非接触で可視化
●高剛性部材の微小なひずみを測定
高解像度カメラとサブピクセル演算を採用し、変形量の小さい高強度金属でも安定した解析
●CAE解析と比較検証
解析データをCSV出力し、CAEシミュレーションとの誤差を比較
装置部品に用いる金属材料の引張試験に、デジタル画像相関法ソフトDIC Dipp-Strainを活用。試験中のひずみ分布を解析し、破断に至るまでの変形挙動を“面”として把握することで、材料特性の比較評価やCAE解析モデルの検証に役立てている。
①破断に至るひずみ集中の観察
試験片(テストピース)中央に発生する主ひずみ分布を計測。応力集中部の発生タイミングと破断開始点を把握
②異なる材料同士の比較
炭素鋼・高張力鋼・熱処理材を比較し、同一条件での伸び率とひずみ集中を定量化
③CAE解析と相関確認
実測データと解析モデルを重ね合わせ、破断予測位置やひずみ進展パターンの一致度を検証
【ひずみ分布の”見える化”で設計効率が向上】
●局所的な応力集中や破断位置を特定
・面全体のひずみを解析することで、局所的な破断位置を特定
・再試験時も同一傾向が得られ、再現性が改善
●設計検証のサイクル短縮、省コスト化
・CAE解析との比較精度が向上、設計~評価のフィードバック時間を削減
・試験片ごとの評価コストを削減、必要な試験回数を低減
デジタル画像相関法(DIC)の計測事例を紹介します。カトウ光研では、測定対象物に応じて適切なカメラの選定、キャリブレーションから撮影までトータルでサポートしています。
撮影協力:東京工業大学 宍戸・久保研究室 赤松 範久 先生
PETの引張試験を実例として、デジタル画像相関法(DIC)でひずみ分布算出までの計測手順を紹介します。
DIC(デジタル画像相関法)でスピーカーの振動を可視化。ハイスピードカメラと画像解析技術で、スピーカーの振動を3次元で捉えました。100Hz、200Hz、1kHzの異なる周波数で音を鳴らしたときのスピーカーの動きを、DIC(デジタル画像相関法)で解析してひずみの違いを比較しています。
材料をハンマーでたたき 割れる瞬間のひずみを解析しています。実験は珪藻土を使用して 割れる瞬間をハイスピード撮影(1秒間に21,000枚)しました。スーパースローで撮影された珪藻土の画像から”ひずみ”を解析して定量化しています。
撮影協力:東海大学 工学部 医工学科 菊川 久夫 先生
この動画では、エコー画像にデジタル画像相関法(DIC)を適用し、ひずみを算出する計測手法を紹介します。画像から組織の変形やひずみを解析することで、医療分野における計測・評価への応用が期待されています。
今回の動画では、デジタル画像相関法(DIC)を使って人の皮膚のひずみ(strain)を計測しています。ステレオDIC(カメラ2台を使用)を用いて、手のひらと腕のひずみを3次元で計測しました。手のひらと腕にペンで圧力を加え、その際のひずみを詳細に解析します。
デジタル画像相関法(DIC)では、画像から皮膚のひずみを捉えられるため、医用工学分野への応用も期待できます。
ご検討中の実験対象や現象に合わせて、
可視化・解析方法をご提案します
デジタル画像相関法(DIC)では、撮影画像から対象物表面の変位やひずみを面で計測できます。
材料試験、引張試験、曲げ試験、振動試験、衝撃試験など、
対象物の変形挙動を可視化・数値化したい場合に有効です。
「対象物のひずみ分布を面で評価したい」
「ひずみゲージでは測りにくい範囲を非接触で計測したい」
「2D-DICとStereo-DICのどちらが適しているか相談したい」
「カメラ、照明、ランダムパターン、キャリブレーションを含めた構成を確認したい」など、
確認したい内容が明確に固まっていない段階でもご相談いただけます。
まずは技術相談、またはカタログ確認からお気軽にご利用ください。
DICはDigital Image Correlationの略で、デジタル画像相関法を意味します。
画像解析で物体表面のひずみを計測する手法です。計測対象を撮影して、物体の表面のパターンを
連続する画像間で追跡し、物体が受けた変形を高精度に計測します。
デジタル画像相関法(DIC)の計測精度が使用するカメラの解像度や撮影条件に依存することです。
また、測りたい材料にランダムパターンと呼ばれる模様が必要です。通常、スプレーなどで
塗布しますが、塗布できない対象の場合は計測自体ができない可能性がある点です。
デジタル画像相関(DIC)を行うために必要な模様です。材料の変形に伴って一緒に変形する
パターンを撮影してひずみを計算します。
サブセットは、相関を取る(類似度を測る)小さい領域のことです。サブセット内の
ランダムパターンを比較して類似度を測り、変形を求めます。
デジタル画像相関法(DIC)の精度は、使用するカメラに依存しますが、適切な設定と
準備を整えることで微細な変形を測定できる場合があります。
計測対象・実験条件に合わせてご提案をいたしますのでお問い合わせください。
計測対象となる物体(テストピース等)の表面にランダムパターンを塗布する必要があります。
高いコントラストでパターンを描くことで高精度な計測が可能です。また、パターンをしっかりと
認識するために照明とカメラを準備して、撮影した画像をDICソフトウェアで解析します。
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デジタル画像相関法(DIC)によるひずみ計測について、技術相談も受け付けています
材料試験、引張試験、曲げ試験、振動試験、衝撃試験、2D-DIC、Stereo-DICなど、対象や目的に合わせた撮影・解析方法をご相談ください。
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